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美國Premier X-ray樣品膜(X-ray Film)以其極低的(幾乎不含)雜質(zhì)和厚度均勻而嚴(yán)格生產(chǎn),*的柔韌性和抗化學(xué)腐蝕性,保證檢測結(jié)果的可靠性和重現(xiàn)性,被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。4.0μXRF樣品膜TF-240
美國Premier X-ray樣品膜(X-ray Film)以其極低的(幾乎不含)雜質(zhì)和厚度均勻而嚴(yán)格生產(chǎn),*的柔韌性和抗化學(xué)腐蝕性,保證檢測結(jié)果的可靠性和重現(xiàn)性,被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。美國Premier樣品膜TF-225
美國Premier X-ray樣品膜(X-ray Film)以其極低的(幾乎不含)雜質(zhì)和厚度均勻而嚴(yán)格生產(chǎn),*的柔韌性和抗化學(xué)腐蝕性,保證檢測結(jié)果的可靠性和重現(xiàn)性,被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。XRF的樣品薄膜TF-115
美國Premier X-ray樣品膜(X-ray Film)以其極低的(幾乎不含)雜質(zhì)和厚度均勻而嚴(yán)格生產(chǎn),*的柔韌性和抗化學(xué)腐蝕性,保證檢測結(jié)果的可靠性和重現(xiàn)性,被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。1.5μm XRF測試薄膜TF-115
美國Premier X-ray樣品膜(X-ray Film)以其極低的(幾乎不含)雜質(zhì)和厚度均勻而嚴(yán)格生產(chǎn),*的柔韌性和抗化學(xué)腐蝕性,保證檢測結(jié)果的可靠性和重現(xiàn)性,被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。1.5μm光譜儀薄膜TF-115
美國Premier X-ray樣品膜(X-ray Film)以其低的(幾乎不含)雜質(zhì)和厚度均勻而嚴(yán)格生產(chǎn),好的柔韌性和抗化學(xué)腐蝕性,保證檢測結(jié)果的可靠性和重現(xiàn)性,1.5μm邁拉膜TF-115廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。
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